(资料图)

根据 5 月 12 日在线发表在《内科医学年鉴》上的一项研究，卵圆孔未闭 (PFO) 闭合后残留分流的存在与中风复发或短暂性脑缺血发作 (TIA) 的风险增加有关。

波士顿麻省总医院的 Wenjun Deng 博士及其同事研究了经皮 PFO 封堵术后残余分流与复发性神经系统事件的长期关联。共有 1,078 名接受经皮 PFO 封堵术的 PFO 原因不明卒中患者被随访长达 11 年。

研究人员发现，存在残余分流与完全闭合相比，中风或 TIA复发的发生率增加(2.32 对 0.75 事件/100 患者年;风险比，3.05;95%置信区间，1.65 至 5.62;P < 0.001)。调整协变量后，包括年龄;学习时段;设备;存在房间隔瘤、高血压、高脂血症、糖尿病、高凝状态或过度活动隔膜;和药物使用，结果仍然稳健(风险比，3.01;95% 置信区间，1.59 至 5.69;P < 0.001)。中度或大量残余分流与中风风险增加有关或 TIA 复发(风险比，4.50;95% 置信区间，2.20 至 9.20;P < 0.001)，而小残余分流的结果无统计学意义(风险比，2.02;95% 置信区间，0.87 至 4.69;P = 0.102)。

“我们建议对有中度或大量残余分流的患者进行多学科护理的长期随访，”作者写道。